- ISO 14880-4:2006
- изд.1 L TC 172/SC 9Оптика и фотоника. Матрица микролинз. Часть 4. Методы определения геометрических свойств—————раздел 31.260
Стандарты Международной организации по стандартизации (ИСО). Каталог (в 2-х частях). — М.: ФГУП «СТАНДАРТИНФОРМ». 2008.